實驗(yan)電(dian)爐(lu)在使(shi)用中會出(chu)現這樣那(nei)樣的(de)(de)問(wen)題(ti)影響使(shi)用，如實驗(yan)電(dian)爐(lu)的(de)(de)感應加熱設備運行(xing)正(zheng)常(chang)、但在正(zheng)常(chang)過流(liu)(liu)(liu)保(bao)(bao)護動作時(shi)燒(shao)毀整(zheng)流(liu)(liu)(liu)系(xi)統(tong)的(de)(de)晶閘(zha)管。出(chu)現這樣的(de)(de)問(wen)題(ti)的(de)(de)解(jie)決方(fang)法是什么(me)呢？答：處理過流(liu)(liu)(liu)保(bao)(bao)護時(shi)為了向電(dian)網釋放平波(bo)電(dian)抗(kang)器的(de)(de)能(neng)量，整(zheng)流(liu)(liu)(liu)橋(qiao)由整(zheng)流(liu)(liu)(liu)狀(zhuang)態轉到(dao)逆(ni)變狀(zhuang)態，這時(shi)如果就有(you)可能(neng)造成有(you)源逆(ni)變顛覆燒(shao)毀整(zheng)流(liu)(liu)(liu)系(xi)統(tong)的(de)(de)可控硅，感應加熱爐(lu)的(de)(de)開關跳閘(zha)，并(bing)伴(ban)隨有(you)巨大的(de)(de)電(dian)流(liu)(liu)(liu)短路爆(bao)炸聲，對(dui)變壓(ya)器產生較大的(de)(de)電(dian)流(liu)(liu)(liu)和電(dian)磁力沖擊(ji)，嚴重時(shi)會損壞變壓(ya)器。

a.晶閘(zha)管設備在(zai)做絕緣耐壓測(ce)試時，請取下控制板，不然能夠形成控制板較久性(xing)損壞(huai)。

b.內部電路及參數的更改，恕不另行(xing)通知。

c.如果在運用中(zhong)形成控(kong)制(zhi)板以外(wai)的(de)零部(bu)件損壞，本公司概不(bu)負(fu)責。

d.DLJ器(qi)(qi)材(cai)(cai)是(shi)一種CMOS器(qi)(qi)材(cai)(cai)，運(yun)用時應留意，器(qi)(qi)材(cai)(cai)的(de)兩(liang)個(ge)引(yin)腳之(zhi)間禁止短路(lu)，不然(ran)將損壞芯(xin)片，為確保器(qi)(qi)材(cai)(cai)的(de)蓄熱(re)(re)式鍛造加熱(re)(re)爐安(an)全，因而(er)忌用萬用表直(zhi)接測量器(qi)(qi)材(cai)(cai)的(de)引(yin)腳。

第二個(ge)問(wen)題(ti)：實(shi)驗電(dian)爐的感(gan)應(ying)加熱(re)設備、熱(re)處理設備運行(xing)正(zheng)常但旁(pang)路(lu)電(dian)抗器發(fa)生發(fa)熱(re)燒(shao)毀的現(xian)象。這(zhe)個(ge)問(wen)題(ti)該如何(he)解決(jue)？答：出現(xian)這(zhe)個(ge)問(wen)題(ti)是(shi)因為旁(pang)路(lu)電(dian)抗器自(zi)身的質量現(xian)象；逆(ni)變(bian)電(dian)路(lu)存在不對(dui)稱(cheng)運行(xing)，造成逆(ni)變(bian)電(dian)路(lu)不對(dui)稱(cheng)運行(xing)的主要(yao)原(yuan)因來源于信(xin)號回路(lu)。解決(jue)方法就(jiu)是(shi)把(ba)逆(ni)變(bian)電(dian)路(lu)調對(dui)稱(cheng)就(jiu)行(xing)了(le)。

實驗(yan)電爐在使用(yong)中還會有(you)其他一些問題，但也都有(you)合理的(de)解決方法，具體請關注(zhu)我公(gong)司網站上的(de)文(wen)章。