實驗(yan)(yan)電(dian)(dian)爐在使(shi)用中會出現(xian)(xian)這(zhe)樣(yang)那樣(yang)的(de)(de)問題影響使(shi)用，如(ru)實驗(yan)(yan)電(dian)(dian)爐的(de)(de)感應(ying)(ying)加熱設備運行正常(chang)、但在正常(chang)過流(liu)(liu)保護(hu)動作時(shi)燒毀(hui)(hui)整流(liu)(liu)系(xi)(xi)統的(de)(de)晶(jing)閘(zha)管。出現(xian)(xian)這(zhe)樣(yang)的(de)(de)問題的(de)(de)解決方法是什么呢(ni)？答：處理過流(liu)(liu)保護(hu)時(shi)為了向(xiang)電(dian)(dian)網釋放平波電(dian)(dian)抗器的(de)(de)能(neng)量，整流(liu)(liu)橋由(you)整流(liu)(liu)狀(zhuang)態(tai)轉到(dao)逆(ni)變(bian)狀(zhuang)態(tai)，這(zhe)時(shi)如(ru)果就有可能(neng)造成有源逆(ni)變(bian)顛覆燒毀(hui)(hui)整流(liu)(liu)系(xi)(xi)統的(de)(de)可控硅(gui)，感應(ying)(ying)加熱爐的(de)(de)開關跳閘(zha)，并伴隨有巨(ju)大(da)的(de)(de)電(dian)(dian)流(liu)(liu)短路爆炸(zha)聲，對變(bian)壓(ya)器產生較(jiao)大(da)的(de)(de)電(dian)(dian)流(liu)(liu)和(he)電(dian)(dian)磁力沖擊，嚴重時(shi)會損壞變(bian)壓(ya)器。

a.晶閘(zha)管設備在做絕緣耐壓測試時，請取下(xia)控制板(ban)，不然能夠形成控制板(ban)較久(jiu)性損壞。

b.內部電路及參數的更(geng)改，恕不另行通知(zhi)。

c.如果在運用中形成控制(zhi)板以外的零(ling)部(bu)件損壞，本公(gong)司概(gai)不負責。

d.DLJ器(qi)材(cai)是(shi)一種(zhong)CMOS器(qi)材(cai)，運用(yong)時應留(liu)意，器(qi)材(cai)的兩個引腳(jiao)之間禁止短路，不然將損壞芯片，為確保器(qi)材(cai)的蓄(xu)熱式鍛(duan)造加熱爐安全，因(yin)而忌用(yong)萬用(yong)表直接測量器(qi)材(cai)的引腳(jiao)。

第二個(ge)問(wen)題：實驗(yan)電爐的感應(ying)加熱(re)設(she)備、熱(re)處理設(she)備運(yun)行正常但旁路(lu)(lu)電抗器發(fa)生發(fa)熱(re)燒毀的現象(xiang)(xiang)。這個(ge)問(wen)題該如(ru)何解(jie)決(jue)(jue)？答：出現這個(ge)問(wen)題是(shi)因(yin)(yin)為旁路(lu)(lu)電抗器自身(shen)的質量現象(xiang)(xiang)；逆變(bian)電路(lu)(lu)存在不對稱(cheng)運(yun)行，造成(cheng)逆變(bian)電路(lu)(lu)不對稱(cheng)運(yun)行的主要原因(yin)(yin)來(lai)源于信號回路(lu)(lu)。解(jie)決(jue)(jue)方法就(jiu)是(shi)把逆變(bian)電路(lu)(lu)調對稱(cheng)就(jiu)行了(le)。

實驗電爐在使用中(zhong)還會有其他(ta)一些問題(ti)，但也(ye)都有合理的解決(jue)方(fang)法，具(ju)體請關(guan)注(zhu)我公司網站上(shang)的文章(zhang)。